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QNix 4200P5 涂层测厚仪(分体式+5000μm量程) QNix 4200P5 是 QNix 系列的顶级型号,结合 分体式设计 与 5000μm大量程,不仅适合厚膜检测,还能灵活应对狭小空间或管道内壁的测量,满足复杂工业环境中的
QNix 4200P5 涂层测厚仪(分体式+5000μm量程)
QNix 4200P5 是 QNix 系列的顶级型号,结合 分体式设计 与 5000μm大量程,不仅适合厚膜检测,还能灵活应对狭小空间或管道内壁的测量,满足复杂工业环境中的高要求应用,是重防腐行业和特殊检测场景的理想选择。
主要特点
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分体式结构:灵活测量,适应狭窄空间
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超大测量范围:0~5000μm,适用于厚膜防腐检测
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高精度性能:满足工业级测量标准
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重量仅147g:轻便携带
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坚固耐用:硅胶保护套,防护性能强
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红宝石探头+直流采样技术:保持测量稳定性和重复性
应用用途
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厚膜防腐涂层检测(桥梁、储罐、管道)
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喷涂、电镀、喷粉行业高精度质控
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船舶、石化设备表面涂层厚度测量
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异形零件、复杂工件表面检测
技术参数
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测量模式:Fe(磁性基体)
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测量范围:0~5000μm
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显示精度:0.1μm(@0~99.9μm); 1μm(@100~999μm); 0.01mm(@>1mm)
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测量精度:±(2+3%)μm<3000μm;±(2+5%)μm>3000μm
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最小测量面积:Fe:10×10mm;NFe:6X6mm
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最小曲率半径:凸半径:5mm;凹半径:25mm
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显示:点阵液晶
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存储温度:-10℃~60℃
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工作温度:0℃~50℃
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电源:2×1.5V干电池
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尺寸:100×60×27mm
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重量:147g